Mithilfe des Pikoliter-Dosiersystems PDDS und einer neuen, speziellen Topview-Kamera, beides DataPhysics Instruments, können jetzt erstmals auch kleinste Oberflächen über Kontaktwinkelmessungen in Aufsicht-Perspektive untersucht werden. Somit lassen sich zum Beispiel die Benetzung von Sensoren Leiterplatinen und deren Oberflächenenergie bestimmen – selbst dann, wenn die für eine konventionelle Kontaktwinkelmessung benötigte Seitenansicht verbaut ist.
Vereinbaren Sie jetzt einen Termin mit unserem Applikationszentrum und erhalten Sie Antworten auf Ihre oberflächenchemischen Fragestellungen. Ist Ihre Probe auch noch so klein – wir von DataPhysics Instruments nehmen die Herausforderung an und zeigen Ihnen die für Sie optimale Lösung.
Dominik Schuler
Marketing
Tel.: +49 761 386909-15
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