Polytec hat seine kompakten optischen 3D-Profilometer Micro.View um eine motorisierte XY-Positioniereinheit mit 100 mm Verfahrweg und eine Kipp-Neige-Plattform erweitert. Damit können Oberflächenrauheit, Textur und Mikrostrukturen auch größerer Flächen automatisch und hochpräzise analysiert werden – erstmals in dieser kompakten Geräteserie.

Automatisiertes True Stitching für größere Messfelder

Der neue 100-mm-XY-Tisch verwandelt die TopMap-Micro.View-Serie in eine vollständige Teststation für 2D- und 3D-Profile. Mit dem True-Stitching-Modus lassen sich verlässliche Messdaten selbst an den Rändern des Einzelbildfeldes erzeugen. Das Weißlichtinterferometer liefert dabei Sub-Nanometer-Auflösung, sodass selbst kleinste Mikrostrukturen, Kratzer oder Formabweichungen präzise erfasst werden.

Mehr Effizienz und Flexibilität im Labor

Dank der schnelleren Kipp-Neigefunktion, Polytecs Focus Finder und Focus Tracker sowie automatischer Zentrierung sind wiederholgenaue Messungen möglich. Die Auswahl verschiedener Objektive, darunter das einzigartige 0,6X-Objektiv, ermöglicht die Analyse größerer Flächen bis 15,53 x 11,71 mm². Ideal eignet sich das System für Präzisionsteile, 4“-Wafer, Mikrosystem-Arrays oder Multi-Sample-Messungen.

Fazit: Präzision trifft Geschwindigkeit

Mit dem neuen motorisierten XY-Tisch steigert Polytec die Geschwindigkeit, Genauigkeit und Flexibilität der optischen Rauheits- und Mikrostrukturanalyse – eine Lösung für anspruchsvolle Qualitätskontrolle und Forschung im Labor.

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