Thematik

EOS (Electrical Overstress) steht in vielen Fällen am Ende von Ausfallanalyseberichten, ohne dass sich daraus ein Rückschluss über die tatsächliche Ausfallursache ableiten lässt. Spöttische Ausfallanalytiker sprechen deshalb nicht ganz zu Unrecht bei EOS-Diagnosen auch von „End of Story“.
Häufig ist auch von EOS/ESD die Rede, was meist aber eher zur Verwirrung als zur Ermittlung der wahren
Ausfallursache beiträgt. Zudem zeigt dies, dass es schon die Definition in sich hat.
Das Seminar beleuchtet das Dickicht der Ausfälle mit einer EOS-Fehlersignatur und zeigt die Vielfalt der tatsächlichen Ursachen für EOS auf. Bei deren Ermittlung stößt die klassische Fehleranalyse auf Bauelemente-Ebene an ihre Grenzen und wird durch die Fehleranamnese, die auf der Systemebene ansetzt, sinnvoll ergänzt und erweitert.

Zielgruppe

Das Seminar richtet sich an Ausfallanalytiker auf allen Ebenen der modernen Elektronik sowie an Elektronikentwickler und Testingenieure - auch hier vom Bauelement bis zum fertigen System.

Weitere Informationen:

Weitere Informationen zu Kosten und Programm des Seminars, erhalten Sie unter folgendem Link.

Seminar EOS